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APD-QE 采用了光束空間強(qiáng)度技術(shù)，利用 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)制定的「Irradiance Mode」測(cè)試方式，與各種先進(jìn)探尖臺(tái)形成完整的微米級(jí)光感測(cè)器全光譜效率測(cè)試解決方案。APD-QE 已被應(yīng)用于多種先進(jìn)光感測(cè)器的測(cè)試中，例如在iPhone 曝光及其多種光感測(cè)器、Apple Watch 血氧光感測(cè)器、TFT 影像感測(cè)器、源動(dòng)態(tài)圖元感測(cè)器（APS）、高靈敏度間切換 X 射線感測(cè)器等。

傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測(cè)器面臨許多測(cè)試方法挑戰(zhàn)。光焱科技針對(duì)新世代的光電探測(cè)器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE光譜響應(yīng)測(cè)試與光電傳感器特性分析。